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扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)添加时间:2016/12/2 18:03:16
扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)
产品详情

扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像,对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察,最大放大倍数可达30万倍,同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析。

    测试项目:样品表面成分分析        

    测试范围:各种固体材料的形貌分析、微区化学成分检测,样品成分的线分布和面分布分析

主要性能指标:

    分辨率:高真空模式3.0nm, 低真空模式4.0nm

    放大率:×8~×300000

    最大样品尺寸:125×100×80mm

    能谱能量分辨率:129.45eV

    可测元素范围:铍Be~Es